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Prof. Young-Sik Ghim

Head / Optical Imaging and Metrology Team, Advanced Instrumentation Institute, Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS)
  Professor / Department of Science of Measurement, University of Science and Technology (UST)

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+82-42-868-5678

young.ghim@kriss.re.kr

Education

학력

KAIST

  • KAIST 기계공학과 박사(2007)

  • KAIST 기계공학과 석사(2003)

  • KAIST 기계공학과 학사(2001)

​경력사항

  • 2022~현재 : 연세대학교 이과대학 융합반도체협동과정 겸임교수

  • 2022~현재 : 한국표준과학연구원 우대연구원

  • 2014~현재 : 과학기술연합대학원대학교 계측공학과 전임교수

  • 2019~2021 : 한국표준과학연구원 우대연구원

  • 2011~현재 : 한국표준과학연구원 팀장/책임연구원

  • 2009~2011 : 삼성전기 생산기술연구소 책임연구원

  • 2009 : Veeco Inc. 방문 연구원

  • 2008~2009 : 노스캐롤라이나대학교 박사후연구원

  • 2007~2008 : KAIST 박사후연구원

  • 2004 : NMIJ/AIST 방문 연구원

수상실적

  • 2022 : 과학기술정보통신부장관 표창

  • 2022 : ASML Korea Tech Talk 2022 Young Professor Paper Award 우수상

  • 2022 : 한국표준과학연구원 이달의 KRISS인상(1월)

  • 2021 : 과학기술연합대학원대학교 우수교수상 우수상

  • 2020 : 제53회 과학·정보통신의 날 기념 국무총리표창

  • 2020 : 특허청 2020년 상반기 특허기술상 지석영상

  • 2019 : 한국표준과학연구원 이달의 KRISS인상(7월)

  • 2019 : 한국정밀공학회 최우수 논문상

  • 2019 : 과학기술연합대학원대학교 우수강의상

  • 2017 : 한국표준과학연구원 이달의 KRISS인상(12월)

  • 2007 : 삼성전기 Inside Edge 논문대상 금상

  • 2006 : 삼성전기 Inside Edge 논문대상 은상

  • 2005 : 한국광학회 논문발표상

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